Studentische Hilfskraft, befristet
Fordere bei AIXTRON die Zukunft heraus. Challenge the impossible - are you ready?
In unseren Applikationslaboren in Herzogenrath und Erlangen arbeiten wir an den Anwendungen von morgen: Angefangen bei LEDs für Displays, Laser und Detektoren für die 3D Sensorik bis hin zur Leistungselektronik für Anwendungen in der Elektromobilität oder Hochfrequenztransistoren für 5G Netze. Unsere Produkte ebnen den Weg für unsere Kunden aus der Halbleiterindustrie, um in den Märkten von morgen erfolgreich zu sein. Unsere Stärke ist die langjährige Expertise in hochkomplexen Epitaxieprozessen und deren Einfluss auf die Performance von elektronischen und optoelektronischen Bauelementen. Deine Arbeit ist eng verknüpft mit unseren modernen Epitaxieanlagen der aktuellen und nächsten Generation. Möchtest auch du Teil dieses internationalen, weltweit vernetzten Teams aus hochqualifizierten und hochmotivierten Experten sein?
Das Wichtigste in Kürze
Als studentische Hilfskraft in unserem Metrology Lab führst du modernste Charakterisierungmethoden für die in unseren Anlagen beschichteten Substrate (Wafer) durch, z. B. Röntgendiffraktometrie (XRD), Photolumineszenz (PL) oder elektrische Charakterisierungen. Du koordinierst und startest Rezept-gesteuerte Messprogramme, be- und entlädst Wafer und dokumentierst bzw. speicherst die Resultate. Dabei wirst du von erfahrenen Metrology-Ingenieuren unterstützt und arbeitest eng mit den Prozessingenieuren der verschiedenen MOCVD-Anlagen in unserem Applikationslabor zusammen. Dabei erhältst du Einsicht in modernste Entwicklungen für die Zukunftstechnologien von morgen.
Deine Challenge
* Durchführung von messtechnischen Aufgaben und Dokumentation von Messergebnissen im Charakterisierungslabor
* Eigenständige Entwicklung von Analysescripts zur Datenverarbeitung von Charakterisierungsdaten (z.B. Python)
* Unterstützung des Charakterisierungslabor bei der Erstellung von Reports im Rahmen von internen Projekten
* Unterstützung des Charakterisierungslabor bei der Instandhaltung und Optimierung der Charakterisierungs-Tools
* Pflege der Messmittelverwaltung und Stammdatenpflege